图像金相显微镜GX40-V金相显微镜用于鉴别和分析各种金属、合金材料和非金属材料的组织结构，广泛应用于工厂或实验室进行原材料检验；铸件质量鉴定或材料处理后的金相组织分析；以及对表面裂纹和喷涂等一些表...

高清晰国标金相分析系统GX50-DS金相显微镜用于鉴别和分析各种金属、合金材料和非金属材料的组织结构，广泛应用于工厂或实验室进行原材料检验；铸件质量鉴定或材料处理后的金相组织分析；以及对表面裂纹和喷...

偏光金相显微镜GX60倒置式带有偏光装置的金相显微镜，适宜较大的、两端面不平行或异形试样，是金相显微镜的完善机型。倒置式金相显微镜，操作时试样观察表面向下，因此与试样的高度和平行度无关，使操作比较方...

数码偏光金相显微镜GX60-D用于鉴别和分析各种金属、合金材料和非金属材料的组织结构，广泛应用于工厂或实验室进行原材料检验；铸件质量鉴定或材料处理后的金相组织分析；以及对表面裂纹和喷涂等一些表面现象...

数码金相定量分析系统GX60-DS用于鉴别和分析各种金属、合金材料和非金属材料的组织结构，广泛应用于工厂或实验室进行原材料检验；铸件质量鉴定或材料处理后的金相组织分析；以及对表面裂纹和喷涂等一些表面...

金相定量图像分析系统GX60-MS用于鉴别和分析各种金属、合金材料和非金属材料的组织结构，广泛应用于工厂或实验室进行原材料检验；铸件质量鉴定或材料处理后的金相组织分析；以及对表面裂纹和喷涂等一些表面...

图像偏光金相显微镜GX60-V用于鉴别和分析各种金属、合金材料和非金属材料的组织结构，广泛应用于工厂或实验室进行原材料检验；铸件质量鉴定或材料处理后的金相组织分析；以及对表面裂纹和喷涂等一些表面现象...

正置金相显微镜XJL-101正置式的金相显微镜，适宜于寻找特定或广域范围内目标的观察研究和分析。因此，除了可用于鉴别和分析各种金属和合金材料的组织结构，近年来更广泛地应用于电子行业和微颗粒、线材、纤...

正置金相显微镜XJL-101A正置式的金相显微镜，适宜于寻找特定或广域范围内目标的观察研究和分析。因此，除了可用于鉴别和分析各种金属和合金材料的组织结构，近年来更广泛地应用于电子行业和微颗粒、线材、...

数码金相显微镜XJL-101D正置式的金相显微镜，适宜于寻找特定或广域范围内目标的观察研究和分析。因此，除了可用于鉴别和分析各种金属和合金材料的组织结构，近年来更广泛地应用于电子行业和微颗粒、线材、...

显微图像分析系统XJL-101M正置式的金相显微镜，适宜于寻找特定或广域范围内目标的观察研究和分析。因此，除了可用于鉴别和分析各种金属和合金材料的组织结构，近年来更广泛地应用于电子行业和微颗粒、线材...

正置图像金相显微镜XJL-101V正置式的金相显微镜，适宜于寻找特定或广域范围内目标的观察研究和分析。因此，除了可用于鉴别和分析各种金属和合金材料的组织结构，近年来更广泛地应用于电子行业和微颗粒、线...

正置金相显微镜XJL-201正置式的金相显微镜，适宜于微小和不方便倒置的试样，及需要寻找特定或广域范围内目标的观察研究和分析。因此，除了可用于鉴别和分析各种金属和合金材料的组织结构，近年来更广泛地应...

正置金相显微镜XJL-201A正置式的金相显微镜，适宜于微小和不方便倒置的试样，及需要寻找特定或广域范围内目标的观察研究和分析。因此，除了可用于鉴别和分析各种金属和合金材料的组织结构，近年来更广泛地...

显微图像分析系统XJP-12AM透反两用正置金相显微镜，用落射(同轴反射)和透射照明方式，鉴别和分析各种金属、合成材料和非金属物质的组织结构，及对集成电路、微颗粒、线材、纤维、表面喷涂等一些表面现象...

正置透反金相显微镜XJP-12B透反两用正置金相显微镜，用落射(同轴反射)和透射照明方式，鉴别和分析各种金属、合成材料和非金属物质的组织结构，及对集成电路、微颗粒、线材、纤维、表面喷涂等一些表面现象...

正置数码金相显微镜XJP-12D透反两用正置金相显微镜，用落射(同轴反射)和透射照明方式，鉴别和分析各种金属、合成材料和非金属物质的组织结构，及对集成电路、微颗粒、线材、纤维、表面喷涂等一些表面现象...

正置图像金相显微镜XJP-12V透反两用正置金相显微镜，用落射(同轴反射)和透射照明方式，鉴别和分析各种金属、合成材料和非金属物质的组织结构，及对集成电路、微颗粒、线材、纤维、表面喷涂等一些表面现象...